Karakterizaĵo
Altnivela duoble-flanka interreta aŭtomata optika inspekta maŝinoTY-A900
Preciza optika bildigo
Duflanka strukturo: fotiloj ambaŭflanke moviĝas samtempe, kaptas bildojn samtempe kaj detektas ambaŭ flankojn samtempe, atingante finfinan rapidecon certigante la bildigan efikon.
Telecentra lenso: pafas bildojn sen paralakso, efike evitas reflektan interferon, minimumigas altajn komponentojn kaj solvas la problemon de kampa profundo.
Industriaj fotiloj prenas altrapidajn bildojn kaj kaptas altdifinajn bildojn
Trikolora turo lumfonto RGB trikolora LED kaj mult-angula turforma kombina dezajno povas precize reflekti la deklivnivelan informon de la objektosurfaco
Kolineareco:La malantaŭa LED-lumstrio bezonas detekti la relativan ofseton de du LED-oj por certigi, ke la tuta LED-lumstrio estas samlinia, kio perfekte solvas la industrian problemon de S-tipa ne-kolineara LED-distribua testado, kiu atingas ne apudan LED-kolinearecon. analizo kaj juĝo.
Rezistala valoridentigo:Ĉi tiu algoritmo uzas la plej novan maŝinan identigan teknologion por kalkuli la precizan rezistvaloron kaj elektrajn karakterizaĵojn de la rezistilo identigante la signojn presitajn sur la rezistilo.Ĉi tiu algoritmo povas esti uzata por detekti malĝustajn partojn de la rezistilo, kaj samtempe realigi aŭtomatan kongruon de "anstataŭaj materialoj" funkcio.
Detekto de gratvundetoj:Ĉi tiu algoritmo serĉos malhelajn striojn de specifita longo en la cela areo kaj kalkulos la mezan brilvaloron de la malhela stria areo.Ĉi tiu algoritmo povas esti uzata por detekti grataĵojn, fendojn ktp sur plataj surfacoj.
Iinteligenta juĝo:Ĉi tiu algoritmo kolektas diversajn kvalifikitajn kaj malbonajn bildspecimenojn respektive, establas inteligentan juĝan reĝimon per trejnado, kaj kalkulas la similecon de la testotaj bildoj.Ĉi tiu algoritmo simulas la homan pensan reĝimon kaj povas solvi iujn problemojn malfacile detekteblajn per tradiciaj algoritmoj.Trankviliĝu.Ekzemple: malkovro de onda lutaĵo, rekomencigita lutpilka detekto, polusdetekto de cirklaj komponantoj, ktp.
Detala Bildo
Specifoj
| Optika sistemo | optika fotilo | 5 milionoj altrapidaj inteligentaj ciferecaj industriaj fotiloj (laŭvolaj 10 milionoj) |
| Rezolucio (FOV) | Norma 10μm/pikselo (korespondanta al FOV: 24mm*32mm) 10/15/20μm/pikselo (laŭvola) | |
| optika lenso | Telecentra lenso de 5M pikseloj | |
| Lumfonta sistemo | Tre hela RGB-koaxiala ringoforma plur-angula LED-lumfonto | |
| Aparataro Agordo | operaciumo | Vindozo 10 Profesiulo |
| Komputila Agordo | i7 CPU, 8G GPU-grafika karto, 16G memoro, 120G solida disko, 1TB mekanika malmola disko | |
| Maŝina nutrado | AC 220 voltoj ±10%, frekvenco 50/60Hz, taksita potenco 1.2KW | |
| PCB direkto | Povas esti agordita maldekstre → dekstre aŭ dekstre → maldekstre premante la butonon | |
| PCB lamenligna metodo | Aŭtomata malfermo aŭ fermo de duflankaj krampoj | |
| Z-aksa fiksa metodo | 1 trako estas fiksita, 2 trakoj estas aŭtomate alĝustigeblaj | |
| Z-aksa traka ĝustigmetodo | Aŭtomate ĝustigu larĝon | |
| transporta alteco | 900±25mm | |
| aerpremo | 0.4～0.8 Mapo | |
| maŝino dimensio | 1050mm * 1120mm * 1830mm (L * W * H) Alteco ne inkluzivas alarmlumon | |
| maŝino pezo | 600 kg | |
| Laŭvola agordo | Senrete programa programaro, ekstera strekkoda pafilo, MES-spurebla sistemo-interfaco malfermita, funkciserva stacia gastiganto | |
| Supren kaj malsupren detekta metodo | Laŭvola: ebligu supran detekton sole, malsupran detekton sole aŭ supran kaj malsupran detekton samtempe. | |
| Specifoj de PCB | PCB grandeco | 50 * 50 mm ~ 450 * 380 mm (pli grandaj grandecoj povas esti personecigitaj laŭ klientpostuloj) |
| PCB-dikeco | 0.3~6mm | |
| Pezo de PCB-tabulo | ≤3KG | |
| Neta pezo | Supra klara alteco ≤ 40mm, malsupra klara alteco ≤ 40mm (specialaj postuloj povas esti personecigitaj) | |
| Minimuma testa elemento | 01005-komponentoj, 0.3 mm tonalto kaj super IC | |
| Testaj eroj | Preso de lutpasto | Ĉeesto aŭ foresto, deflankiĝo, malpli da stano, pli da stano, malfermita cirkvito, poluado, kunligita stano, ktp. |
| Partaj difektoj | Mankantaj partoj, ofsetoj, deformaj, tomboŝtonoj, flanke, renversitaj partoj, inversa poluseco, malĝustaj partoj, difektitaj, multoblaj partoj ktp. | |
| Difektoj de la artiko de lutado | Malpli da stano, pli da stano, kontinua stano, virtuala lutado, multoblaj pecoj ktp. | |
| Ondo-lutado-inspektado | Enmeto de pingloj, Wuxi, malpli da stano, pli da stano, virtuala lutado, stanaj bidoj, stanaj truoj, malfermitaj cirkvitoj, multoblaj pecoj ktp. | |
| Detekto de ruĝa plasta tabulo | Mankantaj partoj, ofseto, deforma, tomboŝtonoj, flanke, renversitaj partoj, inversa poluseco, malĝustaj partoj, damaĝo, gluo superfluo, multoblaj partoj ktp. |
